KEITHLEY吉時(shí)利2602B數(shù)字源表

特征：

• 40V, 3A, 40W 雙通道型號(hào)，80W 功率輸出

• 緊密集成的 4 象限電壓/電流源和測(cè)量?jī)x器提供一流的性能和 6 ? 位分辨率

• 內(nèi)置的基于 Java 的測(cè)試軟件可通過任何瀏覽器實(shí)現(xiàn)真正的即插即用 I/V 表征和測(cè)試。

• TSP（測(cè)試腳本處理）技術(shù)在儀器內(nèi)嵌入完整的測(cè)試程序，以實(shí)現(xiàn)一流的系統(tǒng)級(jí)吞吐量

• 無需主機(jī)的多通道并行測(cè)試的 TSP-Link 擴(kuò)展技術(shù)

• 吉時(shí)利 2400 型 SourceMeter SMU 儀器的軟件仿真

• USB 2.0、LXI-C、GPIB、RS-232 和數(shù)字 I/O 接口

• 免費(fèi)軟件驅(qū)動(dòng)程序和開發(fā)/調(diào)試工具

• 可選的 ACS-Basic 半導(dǎo)體元件表征軟件

提供的配件：

• 操作員和編程手冊(cè)

• 2600-ALG-2：帶鱷魚夾的低噪聲三軸電纜，2m（6.6 英尺）（2634B 和 2636B 提供兩條，2635B 提供一條）

• 2600 套件：帶應(yīng)變消除裝置和蓋子的配對(duì)螺釘端子連接器 (2601B/2602B/2604B/2611B/2612B/2614B)

• CA-180-3A：TSP-Link/以太網(wǎng)電纜（每臺(tái)兩條）

• TSP Express 軟件工具（嵌入式）

• 測(cè)試腳本生成器軟件（在 CD 上提供）

• LabVIEW驅(qū)動(dòng)程序

• ACS基礎(chǔ)版軟件（可選）

• 

2600B 系列系統(tǒng) SourceMeter SMU 儀器是業(yè)界領(lǐng)先的電流/電壓源和測(cè)量解決方案，采用吉時(shí)利第三代 SMU 技術(shù)構(gòu)建。2600B 系列提供單通道和雙通道型號(hào)，將精密電源、真實(shí)電流源、6-1/2 位數(shù)字萬用表、任意波形發(fā)生器、脈沖發(fā)生器和電子負(fù)載的功能整合到一個(gè)緊密集成的儀器中. 結(jié)果是一個(gè)強(qiáng)大的解決方案，可顯著提高從臺(tái)式 I/V 表征到高度自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試等應(yīng)用的生產(chǎn)力。對(duì)于臺(tái)式使用，2600B 系列儀器具有基于 Java 的內(nèi)置軟件，可通過任何瀏覽器、在任何計(jì)算機(jī)上、在世界任何地方進(jìn)行即插即用的 I/V 測(cè)試。對(duì)于自動(dòng)化系統(tǒng)應(yīng)用，2600B 系列的測(cè)試腳本處理器 (TSP) 從儀器內(nèi)部運(yùn)行完整的測(cè)試程序，以獲得業(yè)界的吞吐量。在更大的多通道應(yīng)用中，吉時(shí)利的 TSP-Link 技術(shù)與 TSP 協(xié)同工作，以實(shí)現(xiàn)高速、每引腳 SMU 并行測(cè)試。由于 2600B 系列 SourceMeter SMU 儀器具有完全隔離的通道，不需要大型機(jī)，它們可以隨著您的測(cè)試應(yīng)用程序的發(fā)展而輕松地重新配置和重新部署。

基于 Java 的即插即用 I/V 測(cè)試軟件

2600B 系列是具有基于 Java 的內(nèi)置測(cè)試軟件的 SMU 儀器，可通過任何瀏覽器、在任何計(jì)算機(jī)上、在世界任何地方實(shí)現(xiàn)真正的即插即用 I/V 表征。這種獨(dú)特的功能可提高研發(fā)、教育、QA/FA 等廣泛應(yīng)用的生產(chǎn)力。只需通過隨附的 LAN 電纜將 2600B 連接到互聯(lián)網(wǎng)，打開瀏覽器，輸入 2600B 的 IP 地址，然后開始測(cè)試。生成的數(shù)據(jù)可以下載到電子表格（如 Excel）中以進(jìn)行進(jìn)一步分析和格式化，或包含在其他文檔或演示文稿中。

使用 TSP 技術(shù)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試的無與倫比的吞吐量

對(duì)于需要水平自動(dòng)化和吞吐量的測(cè)試應(yīng)用，2600B 型的 TSP 技術(shù)可提供行業(yè)性能。TSP 技術(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了傳統(tǒng)的測(cè)試命令排序器……它完全嵌入然后從 SMU 儀器本身執(zhí)行完整的測(cè)試程序。這實(shí)際上消除了進(jìn)出 PC 控制器的所有耗時(shí)的總線通信，從而顯著縮短了整體測(cè)試時(shí)間。

采用 TSP-Link 技術(shù)的 SMU-Per-Pin 并行測(cè)試

TSP-Link 是一種通道擴(kuò)展總線，可將多個(gè) 2600B 系列互連并作為一個(gè)緊密同步的多通道系統(tǒng)運(yùn)行。2600B 的 TSP-Link 技術(shù)與其 TSP 技術(shù)協(xié)同工作，以實(shí)現(xiàn)高速、每引腳 SMU 并行測(cè)試。與其他高速解決方案（如大型 ATE 系統(tǒng)）不同，2600B 可實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試性能，而無需大型機(jī)的成本或負(fù)擔(dān)。基于 TSP-Link 的系統(tǒng)還具有卓越的靈活性，允許隨著測(cè)試要求的變化快速輕松地重新配置系統(tǒng)。

2400 型軟件仿真

2600B 系列與為吉時(shí)利 2400 型 SourceMeter SMU 儀器開發(fā)的測(cè)試代碼兼容。這樣可以更輕松地從基于 Model 2400 的測(cè)試系統(tǒng)升級(jí)到 2600B 系列，并且可以將測(cè)試速度提高多達(dá) 80%。此外，它還提供了從 SCPI 編程到 Keithley 的 TSP 技術(shù)的遷移路徑，實(shí)施后可以進(jìn)一步縮短測(cè)試時(shí)間。為了完全支持傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)，該模式還完全支持 Model 2400 的源內(nèi)存列表測(cè)試排序器。

第三代 SMU 儀器設(shè)計(jì)確保更快的測(cè)試時(shí)間

基于早期 2600 系列儀器經(jīng)過驗(yàn)證的架構(gòu)，2600B 系列的 SMU 儀器設(shè)計(jì)以多種方式提高了測(cè)試速度。例如，較早的設(shè)計(jì)使用并聯(lián)電流測(cè)距拓?fù)?，?2600B 系列使用獲得專利的串聯(lián)測(cè)距拓?fù)?，可提供更快、更平滑的量程變化和更快穩(wěn)定的輸出。

2600B 系列 SMU 儀器設(shè)計(jì)支持兩種操作模式以用于各種負(fù)載。在正常模式下，SMU 儀器提供高帶寬性能以實(shí)現(xiàn)吞吐量。在高電容（高 C）模式下，SMU 儀器使用較慢的帶寬來提供具有較高容性負(fù)載的穩(wěn)健性能。

本公司回收以下品牌各類儀器：

NI (美國(guó)國(guó)家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測(cè)）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）

回收類別：

網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、示波器、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測(cè)試儀、高頻信號(hào)源、頻率計(jì)、功率計(jì)、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線測(cè)試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬用表、靜電計(jì)/高阻表、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、LCR測(cè)試儀、電子負(fù)載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測(cè)試儀、高壓機(jī)/耐壓測(cè)試儀、NI機(jī)箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、接收機(jī)、晶體管測(cè)試儀、調(diào)制度分析儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測(cè)量系統(tǒng)、阻抗測(cè)試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測(cè)儀、耦合板等等。