Agilent安捷倫E5070(3GHz) 和E5071A (8.5GHz) 提供2個(gè)，3個(gè)或4個(gè)測試端口，可對具有多達(dá)4個(gè)端口的元件中所有信號路徑作同時(shí)的測量。從而把多端口S-參數(shù)測量所需的掃描數(shù)量減到*少，也同時(shí)提
高了測試吞吐率。內(nèi)置的平衡測量、匹配電路仿真和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換都為降低總測試成本作出了
貢獻(xiàn)。

Agilent E5071B網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了快速、精確的射頻器件測量能力。其先進(jìn)的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進(jìn)一步提高了測試吞吐率。


E5071B概述和特性
頻率范圍：300 kHz至8.5GHz
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
寬動態(tài)范圍：在測試端口上的動態(tài)范圍> 123 dB（典型值）
極快的測量速度：39 ms（進(jìn)行完全雙端口校準(zhǔn)，掃描1601點(diǎn)時(shí)）
低跡線噪聲：0.004 dB rms（70 kHz IFBW時(shí)）

跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?br/>E5071B ENA射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀，300 kHz至8.5 GHz
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點(diǎn)